Nanometer spatial resolution achieved in hard x-ray imaging and Laue diffraction experiments.

Bilderback, D H; Hoffman, S A; Thiel, D J

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Nanometer spatial resolution achieved in hard x-ray imaging and Laue diffraction experiments.

Bilderback, D H; Hoffman, S A; Thiel, D J.

Afiliação

Bilderback DH; Cornell High Energy Synchrotron Source, Cornell University, Ithaca, NY 14853.

Science ; 263(5144): 201-3, 1994 Jan 14.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-8284671

Assuntos

Difração de Raios X; Raios X; Cristalografia por Raios X; Ouro; Processamento de Imagem Assistida por Computador; Muramidase/química; Síncrotrons

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Difração de Raios X / Raios X Idioma: En Revista: Science Ano de publicação: 1994 Tipo de documento: Article

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Difração de Raios X / Raios X Idioma: En Revista: Science Ano de publicação: 1994 Tipo de documento: Article