Study of the SiO2-Si interface using variable energy positron two-dimensional angular correlation of annihilation radiation.
Phys Rev Lett
; 76(12): 2157-2160, 1996 Mar 18.
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em En
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| ID: mdl-10060620
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Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Ano de publicação:
1996
Tipo de documento:
Article