Reflection mode scanning near-field optical microscopy analyses of integrated devices. | J Microsc;194(Pt 2-3): 542-4, 1999. | MEDLINE

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Reflection mode scanning near-field optical microscopy analyses of integrated devices.

Cramer, R M; Chin, R; Balk, L J.

Afiliação

Cramer RM; Lehrstuhl für Elektronik, BUGH Wuppertal, Germany. cramer@uni-wuppertal.de

J Microsc ; 194(Pt 2-3): 542-4, 1999.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-11388303

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Ano de publicação: 1999 Tipo de documento: Article País de afiliação: Alemanha

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