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A statistics-guided approach to precise characterization of nanowire morphology.
Wang, Fei; Hwang, Youngdeok; Qian, Peter Z G; Wang, Xudong.
Afiliação
  • Wang F; Department of Materials Science and Engineering,University of Wisconsin, Madison, WI 53706, USA.
ACS Nano ; 4(2): 855-62, 2010 Feb 23.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20102154
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Nano Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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