AFM force mapping for characterizing patterns of electrostatic charges on SiO2 electrets. | Langmuir;26(14): 11958-62, 2010 Jul 20. | MEDLINE

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AFM force mapping for characterizing patterns of electrostatic charges on SiO2 electrets.

Zhang, Yiheng; Zhao, Dan; Tan, Xinxin; Cao, Tingbing; Zhang, Xi.

Afiliação

Zhang Y; Key Lab of Organic Optoelectronics and Molecular Engineering, Department of Chemistry, Tsinghua University, Beijing 100084, PR China.

Langmuir ; 26(14): 11958-62, 2010 Jul 20.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20476727

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Langmuir Assunto da revista: QUIMICA Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article

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