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Ion beam nanopatterning and micro-Raman spectroscopy analysis on HOPG for testing FIB performances.
Archanjo, B S; Maciel, I O; Ferreira, E H Martins; Peripolli, S B; Damasceno, J C; Achete, C A; Jorio, A.
Afiliação
  • Archanjo BS; Divisão de Metrologia de Materiais, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (INMETRO), Duque de Caxias 25250-020, Rio de Janeiro, RJ, Brazil. bsarchanjo@inmetro.gov.br
Ultramicroscopy ; 111(8): 1338-42, 2011 Jul.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21864774

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article País de afiliação: Brasil

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