Note: Alignment/focus dependent core-line sensitivity for quantitative chemical analysis in hard x-ray photoelectron spectroscopy using a hemispherical electron analyzer. | Rev Sci Instrum;84(3): 036106, 2013 Mar. | MEDLINE

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Note: Alignment/focus dependent core-line sensitivity for quantitative chemical analysis in hard x-ray photoelectron spectroscopy using a hemispherical electron analyzer.

Weiland, Conan; Browning, Raymond; Karlin, Barry A; Fischer, Daniel A; Woicik, Joseph C.

Afiliação

Weiland C; Material Measurement Laboratory, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA.

Rev Sci Instrum ; 84(3): 036106, 2013 Mar.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23556858

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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