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Characterization of spatially varying aberrations for wide field-of-view microscopy.
Zheng, Guoan; Ou, Xiaoze; Horstmeyer, Roarke; Yang, Changhuei.
Afiliação
  • Zheng G; Department of Electrical Engineering, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91125, USA. gazheng@caltech.edu
Opt Express ; 21(13): 15131-43, 2013 Jul 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23842300

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Express Assunto da revista: OFTALMOLOGIA Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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