Electrical transport and low-frequency noise in chemical vapor deposited single-layer MoS2 devices.
Nanotechnology
; 25(15): 155702, 2014 Apr 18.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-24642948
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
MEDLINE
Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Nanotechnology
Ano de publicação:
2014
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Estados Unidos