Simulation of probe position-dependent electron energy-loss fine structure.

Oxley, Mark P; Kapetanakis, Myron D; Prange, Micah P; Varela, Maria; Pennycook, Stephen J; Pantelides, Sokrates T

Oxley, Mark P; Kapetanakis, Myron D; Prange, Micah P; Varela, Maria; Pennycook, Stephen J; Pantelides, Sokrates T.

Afiliação

Oxley MP; 1Department of Physics and Astronomy,Vanderbilt University,Nashville,Tennessee 37235,USA.
Kapetanakis MD; 1Department of Physics and Astronomy,Vanderbilt University,Nashville,Tennessee 37235,USA.
Prange MP; 1Department of Physics and Astronomy,Vanderbilt University,Nashville,Tennessee 37235,USA.
Varela M; 2Materials Science and Technology Division,Oak Ridge National Laboratory,Oak Ridge,Tennessee 37831,USA.
Pennycook SJ; 2Materials Science and Technology Division,Oak Ridge National Laboratory,Oak Ridge,Tennessee 37831,USA.
Pantelides ST; 1Department of Physics and Astronomy,Vanderbilt University,Nashville,Tennessee 37235,USA.

Microsc Microanal ; 20(3): 784-97, 2014 Jun.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24685384

Assuntos

Processamento de Imagem Assistida por Computador/métodos; Microscopia Eletrônica de Transmissão e Varredura/métodos; Espectroscopia de Perda de Energia de Elétrons; Modelos Teóricos; Óxidos/análise; Estrôncio/análise; Titânio/análise

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Processamento de Imagem Assistida por Computador / Microscopia Eletrônica de Transmissão e Varredura / Espectroscopia de Perda de Energia de Elétrons Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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