Extended x-ray absorption fine structure measurements on asymmetric bipolar pulse direct current magnetron sputtered Ta(2)O(5) thin films. | Appl Opt;54(22): 6744-51, 2015 Aug 01. | MEDLINE

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Extended x-ray absorption fine structure measurements on asymmetric bipolar pulse direct current magnetron sputtered Ta(2)O(5) thin films.

Maidul Haque, S; Sagdeo, Pankaj R; Shinde, D D; Misal, J S; Jha, S N; Bhattacharyya, D; Sahoo, N K.

Appl Opt ; 54(22): 6744-51, 2015 Aug 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26368089

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article

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