An x-ray backlit Talbot-Lau deflectometer for high-energy-density electron density diagnostics.

Valdivia, M P; Stutman, D; Stoeckl, C; Theobald, W; Mileham, C; Begishev, I A; Bromage, J; Regan, S P

Valdivia, M P; Stutman, D; Stoeckl, C; Theobald, W; Mileham, C; Begishev, I A; Bromage, J; Regan, S P.

Afiliação

Valdivia MP; Department of Physics and Astronomy, Johns Hopkins University, Baltimore, Maryland 21218, USA.
Stutman D; Department of Physics and Astronomy, Johns Hopkins University, Baltimore, Maryland 21218, USA.
Stoeckl C; Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York 14623, USA.
Theobald W; Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York 14623, USA.
Mileham C; Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York 14623, USA.
Begishev IA; Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York 14623, USA.
Bromage J; Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York 14623, USA.
Regan SP; Laboratory for Laser Energetics, University of Rochester, Rochester, New York 14623, USA.

Rev Sci Instrum ; 87(2): 023505, 2016 Feb.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26931847

Assuntos

Elétrons; Tomografia Computadorizada por Raios X/instrumentação; Tomografia Computadorizada por Raios X/métodos

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Tomografia Computadorizada por Raios X / Elétrons Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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