Electron Diffraction Using Transmission Electron Microscopy. | J Res Natl Inst Stand Technol;106(6): 997-1012, 2001. | MEDLINE

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Electron Diffraction Using Transmission Electron Microscopy.

Bendersky, L A; Gayle, F W.

Afiliação

Bendersky LA; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899-8554.
Gayle FW; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899-8554.

J Res Natl Inst Stand Technol ; 106(6): 997-1012, 2001.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-27500060

Palavras-chave

crystal structure; crystallography; defects; electron diffraction; phase transitions; quasicrystals; transmission electron microscopy

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Res Natl Inst Stand Technol Ano de publicação: 2001 Tipo de documento: Article

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