Analysis of the interface characteristics of CVD-grown monolayer MoS<sub>2</sub> by noise measurements. | Nanotechnology;28(14): 145702, 2017 Apr 07. | MEDLINE

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Analysis of the interface characteristics of CVD-grown monolayer MoS₂ by noise measurements.

Kim, Tae-Young; Song, Younggul; Cho, Kyungjune; Amani, Matin; Ho Ahn, Geun; Kim, Jae-Keun; Pak, Jinsu; Chung, Seungjun; Javey, Ali; Lee, Takhee.

Afiliação

Kim TY; Department of Physics and Astronomy, and Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, Republic of Korea.

Nanotechnology ; 28(14): 145702, 2017 Apr 07.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28276342

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article