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New Atom Probe Tomography Reconstruction Algorithm for Multilayered Samples: Beyond the Hemispherical Constraint.
Rolland, Nicolas; Vurpillot, François; Duguay, Sébastien; Mazumder, Baishakhi; Speck, James S; Blavette, Didier.
Afiliação
  • Rolland N; 1Groupe de Physique des Matériaux,Université et INSA de Rouen-UMR CNRS 6634-Normandie Université,76801 St Etienne du Rouvray,France.
  • Vurpillot F; 1Groupe de Physique des Matériaux,Université et INSA de Rouen-UMR CNRS 6634-Normandie Université,76801 St Etienne du Rouvray,France.
  • Duguay S; 1Groupe de Physique des Matériaux,Université et INSA de Rouen-UMR CNRS 6634-Normandie Université,76801 St Etienne du Rouvray,France.
  • Mazumder B; 2Department of Material Design and Innovation,University at Buffalo,Buffalo, NY 14260,USA.
  • Speck JS; 3Materials Department,University of California,Santa Barbara,CA 93106,USA.
  • Blavette D; 1Groupe de Physique des Matériaux,Université et INSA de Rouen-UMR CNRS 6634-Normandie Université,76801 St Etienne du Rouvray,France.
Microsc Microanal ; 23(2): 247-254, 2017 04.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28327210

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: França

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: França