Terahertz microscopy assisted by semiconductor nonlinearities. | Opt Lett;43(20): 4997-5000, 2018 Oct 15. | MEDLINE

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Terahertz microscopy assisted by semiconductor nonlinearities.

Blanchard, François; Chai, Xin; Tanaka, Tomoko; Arikawa, Takashi; Ozaki, Tsuneyuki; Morandotti, Roberto; Tanaka, Koichiro.

Opt Lett ; 43(20): 4997-5000, 2018 Oct 15.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30320803

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Lett Ano de publicação: 2018 Tipo de documento: Article

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