A Study of Parameters Affecting Atom Probe Tomography Specimen Survivability.

Prosa, Ty J; Strennen, Savanna; Olson, David; Lawrence, Dan; Larson, David J

Prosa, Ty J; Strennen, Savanna; Olson, David; Lawrence, Dan; Larson, David J.

Afiliação

Prosa TJ; 1CAMECA Instruments Inc.,5470 Nobel Drive,Madison,WI 53711,USA.
Strennen S; 2PPD Labratories - GMP Lab, 8551 Research Way,Suite 90,Middleton,WI 53562,USA.
Olson D; 3ThermoFisher Scientific,5350 NE Dawson Creek Drive,Hillsboro,OR 97124-5793,USA.
Lawrence D; 4TESCAN Instruments Inc.,765 Commonwealth Drive,Warrendale,PA 15086,USA.
Larson DJ; 1CAMECA Instruments Inc.,5470 Nobel Drive,Madison,WI 53711,USA.

Microsc Microanal ; 25(2): 425-437, 2019 04.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30392482

Palavras-chave

analysis yield; electric field; experimental design; silicon-based materials; tensile stress

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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