Photonic temperature and wavelength metrology by spectral pattern recognition.
Opt Express
; 28(12): 17409-17423, 2020 Jun 08.
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em En
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| ID: mdl-32679949
Texto completo:
1
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01-internacional
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MEDLINE
Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Opt Express
Assunto da revista:
OFTALMOLOGIA
Ano de publicação:
2020
Tipo de documento:
Article