Considerations for excess noise measurements of low-k-factor Sb-based avalanche photodiodes.
J Opt Soc Am A Opt Image Sci Vis
; 40(6): 1225-1230, 2023 Jun 01.
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Revista:
J Opt Soc Am A Opt Image Sci Vis
Assunto da revista:
OFTALMOLOGIA
Ano de publicação:
2023
Tipo de documento:
Article