Conduction-band offset determination in GaAs-AlxGa1-xAs through measurement of infrared internal photoemission.
Phys Rev B Condens Matter
; 36(17): 9370-9373, 1987 Dec 15.
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em En
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| ID: mdl-9942823
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Idioma:
En
Revista:
Phys Rev B Condens Matter
Ano de publicação:
1987
Tipo de documento:
Article