At-wavelength optics characterisation via X-ray speckle- and grating-based unified modulated pattern analysis.

Zdora, Marie-Christine; Zanette, Irene; Zhou, Tunhe; Koch, Frieder J; Romell, Jenny; Sala, Simone; Last, Arndt; Ohishi, Yasuo; Hirao, Naohisa; Rau, Christoph; Thibault, Pierre

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Portal de Búsqueda de la BVS Ecuador

Información y Conocimiento para la Salud

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada

At-wavelength optics characterisation via X-ray speckle- and grating-based unified modulated pattern analysis.

Zdora, Marie-Christine; Zanette, Irene; Zhou, Tunhe; Koch, Frieder J; Romell, Jenny; Sala, Simone; Last, Arndt; Ohishi, Yasuo; Hirao, Naohisa; Rau, Christoph; Thibault, Pierre.

Opt Express ; 26(4): 4989-5004, 2018 Feb 19.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29475342

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2018 Tipo del documento: Article

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Express Asunto de la revista: OFTALMOLOGIA Año: 2018 Tipo del documento: Article