Thermal conductivity and its relation to atomic structure for symmetrical tilt grain boundaries in silicon.

Hickman, J; Mishin, Y

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

Portal de Búsqueda de la BVS Ecuador

Información y Conocimiento para la Salud

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada

Thermal conductivity and its relation to atomic structure for symmetrical tilt grain boundaries in silicon.

Hickman, J; Mishin, Y.

Afiliación

Hickman J; Materials Science and Engineering Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899-8910, USA.
Mishin Y; Department of Physics and Astronomy, MSN 3F3, George Mason University, Fairfax, Virginia 22030, USA.

Phys Rev Mater ; 4(3)2020.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-33062914

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Mater Año: 2020 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Mater Año: 2020 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos