Determination of thickness, refractive index, and thickness irregularity for semiconductor thin films from transmission spectra.
Appl Opt
; 41(1): 218-24, 2002 Jan 01.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-11902146
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Coleções:
01-internacional
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Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Ano de publicação:
2002
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Paquistão