[001] zone-axis bright-field diffraction contrast from coherent Ge(Si) islands on Si(001).
Ultramicroscopy
; 98(2-4): 239-47, 2004 Jan.
Article
em En
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| ID: mdl-15046804
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Idioma:
En
Revista:
Ultramicroscopy
Ano de publicação:
2004
Tipo de documento:
Article
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Reino Unido