Optical characterization of varnish films by spectroscopic ellipsometry for application in artwork conservation.

Polikreti, Kyriaki; Othonos, Andreas; Christofides, Constantinos

Polikreti, Kyriaki; Othonos, Andreas; Christofides, Constantinos.

Afiliação

Polikreti K; Photonics and Optoelectronics Research Laboratory, Department of Physics, University of Cyprus, P. O. Box 20537, Nicosia 1678, Cyprus.

Appl Spectrosc ; 59(1): 94-9, 2005 Jan.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-15720743

Assuntos

Algoritmos; Membranas Artificiais; Pintura/análise; Pintura/classificação; Pinturas/classificação; Refratometria/métodos; Análise Espectral/métodos

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Pintura / Pinturas / Refratometria / Análise Espectral / Algoritmos / Membranas Artificiais Tipo de estudo: Evaluation_studies Idioma: En Revista: Appl Spectrosc Ano de publicação: 2005 Tipo de documento: Article País de afiliação: Chipre

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