Microinterferometry: Three-Dimensional Reconstruction of Surface Microtopography for Thin-Film and Wetting Studies by Reflection Interference Contrast Microscopy (RICM).
Appl Opt
; 37(29): 6892-905, 1998 Oct 10.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-18301506
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Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Ano de publicação:
1998
Tipo de documento:
Article