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Flexoelectric rectification of charge transport in strain-graded dielectrics.
Lee, Daesu; Yang, Sang Mo; Yoon, Jong-Gul; Noh, Tae Won.
Afiliação
  • Lee D; IBS-Center for Functional Interfaces of Correlated Electron Systems, Seoul National University, Seoul 151-747, Korea.
Nano Lett ; 12(12): 6436-40, 2012 Dec 12.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23190011

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article