Towards RIP using free-electron laser SFX data.

Galli, Lorenzo; Son, Sang Kil; White, Thomas A; Santra, Robin; Chapman, Henry N; Nanao, Max H

Galli, Lorenzo; Son, Sang Kil; White, Thomas A; Santra, Robin; Chapman, Henry N; Nanao, Max H.

Afiliação

Galli L; Center for Free-Electron Laser Science, DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany.
Son SK; Center for Free-Electron Laser Science, DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany.
White TA; Center for Free-Electron Laser Science, DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany.
Santra R; Center for Free-Electron Laser Science, DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany.
Chapman HN; Center for Free-Electron Laser Science, DESY, Notkestrasse 85, 22607 Hamburg, Germany.
Nanao MH; EMBL, Grenoble Outstation, Rue Jules Horowitz 6, 38042 Grenoble, France.

J Synchrotron Radiat ; 22(2): 249-55, 2015 Mar.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25723926

Assuntos

Cristalografia por Raios X/métodos; Conformação Proteica/efeitos da radiação; Lesões por Radiação; Catepsina B/efeitos da radiação; Catepsinas/química; Confiabilidade dos Dados; Elétrons; Humanos; Lasers; Modelos Moleculares; Modelos Teóricos; Espalhamento de Radiação; Sensibilidade e Especificidade

Palavras-chave

SFX; X-ray FEL; phasing; radiation damage

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Conformação Proteica / Lesões por Radiação / Cristalografia por Raios X Tipo de estudo: Diagnostic_studies Limite: Humans Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Assunto da revista: RADIOLOGIA Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article País de afiliação: Alemanha

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