The Impact of the Shallow-Trench Isolation Effect on Flicker Noise of Source Follower MOSFETs in a CMOS Image Sensor.
J Nanosci Nanotechnol
; 18(6): 4217-4221, 2018 Jun 01.
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Revista:
J Nanosci Nanotechnol
Ano de publicação:
2018
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