Extremely thin layer plastification for focused-ion beam scanning electron microscopy: an improved method to study cell surfaces and organelles of cultured cells.
J Microsc
; 270(3): 359-373, 2018 06.
Article
em En
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| ID: mdl-29574724
Palavras-chave
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
MEDLINE
Assunto principal:
Rhizoctonia
/
Manejo de Espécimes
/
Propriedades de Superfície
/
Células Tumorais Cultivadas
/
Microscopia Eletrônica de Varredura
/
Organelas
Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Limite:
Humans
Idioma:
En
Revista:
J Microsc
Ano de publicação:
2018
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Holanda