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Characterization of individual threading dislocations in GaN using ballistic electron emission microscopy.
Im, H J; Ding, Y; Pelz, J P; Heying, B; Speck, J S.
Afiliação
  • Im HJ; Department of Physics, The Ohio State University, Columbus, Ohio 43210, USA.
Phys Rev Lett ; 87(10): 106802, 2001 Sep 03.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-11531495
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Ano de publicação: 2001 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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