Electrical characterization of metal-molecule-silicon junctions.

Wang, W; Lee, T; Kamdar, M; Reed, M A; Stewart, M P; Hwang, J J; Tour, J M

Wang, W; Lee, T; Kamdar, M; Reed, M A; Stewart, M P; Hwang, J J; Tour, J M.

Afiliação

Wang W; Department of Electrical Engineering, Yale University, New Haven, Connecticut 06520, USA.

Ann N Y Acad Sci ; 1006: 36-47, 2003 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-14976008

Assuntos

Eletrônica/instrumentação; Eletrônica/métodos; Metais/química; Nanotecnologia/instrumentação; Nanotecnologia/métodos; Silício/química; Compostos de Trimetilsilil/química; Condutividade Elétrica; Eletroquímica/instrumentação; Eletroquímica/métodos; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Miniaturização; Semicondutores

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Silício / Compostos de Trimetilsilil / Nanotecnologia / Eletrônica / Metais Tipo de estudo: Evaluation_studies / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Ann N Y Acad Sci Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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