Interferometric characterization of a sub-wavelength near-infrared negative index metamaterial.

Zhang, Xuhuai; Davanço, Marcelo; Maller, Kara; Jarvis, Thomas W; Wu, Chihhui; Fietz, Chris; Korobkin, Dmitriy; Li, Xiaoqin; Shvets, Gennady; Forrest, Stephen R

Zhang, Xuhuai; Davanço, Marcelo; Maller, Kara; Jarvis, Thomas W; Wu, Chihhui; Fietz, Chris; Korobkin, Dmitriy; Li, Xiaoqin; Shvets, Gennady; Forrest, Stephen R.

Afiliação

Zhang X; Department of Physics, University of Michigan, Ann Arbor, MI 48109-1040, USA.

Opt Express ; 18(17): 17788-95, 2010 Aug 16.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20721166

Assuntos

Cristalização/métodos; Interferometria/métodos; Manufaturas; Óptica e Fotônica/métodos; Simulação por Computador; Cristalização/instrumentação; Desenho de Equipamento; Vidro; Raios Infravermelhos; Interferometria/instrumentação; Micro-Ondas; Modelos Teóricos; Óptica e Fotônica/instrumentação

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Cristalização / Óptica e Fotônica / Interferometria / Manufaturas Idioma: En Revista: Opt Express Assunto da revista: OFTALMOLOGIA Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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