A Simplified Cluster Analysis of Electron Track Structure for Estimating Complex DNA Damage Yields.
Int J Mol Sci
; 21(5)2020 Mar 02.
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em En
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| ID: mdl-32131419
Palavras-chave
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1
Coleções:
01-internacional
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MEDLINE
Assunto principal:
Dano ao DNA
/
Modelos Genéticos
Idioma:
En
Revista:
Int J Mol Sci
Ano de publicação:
2020
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Japão