Polynomial fitting method of background correction for electron backscatter diffraction patterns. | Sci Rep;12(1): 399, 2022 Jan 10. | MEDLINE

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Polynomial fitting method of background correction for electron backscatter diffraction patterns.

Tsai, Yi-Yun; Pan, Yi-Chen; Kuo, Jui-Chao.

Afiliação

Tsai YY; Department of Materials Science and Engineering, National Cheng-Kung University, Tainan, 701, Taiwan.
Pan YC; Department of Materials Science and Engineering, National Cheng-Kung University, Tainan, 701, Taiwan.
Kuo JC; Department of Materials Science and Engineering, National Cheng-Kung University, Tainan, 701, Taiwan. jckuo@mail.ncku.edu.tw.

Sci Rep ; 12(1): 399, 2022 Jan 10.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-35013512

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Sci Rep Ano de publicação: 2022 Tipo de documento: Article País de afiliação: Taiwan

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