Revisiting focused ion beam scanning electron microscopy

Marshall, Andrea G; Damo, Steven M; Hinton, Antentor

Marshall, Andrea G; Damo, Steven M; Hinton, Antentor.

Afiliação

Marshall AG; Department of Molecular Physiology and Biophysics, Vanderbilt University, Nashville, TN, 37232, USA.
Damo SM; Department of Life and Physical Sciences, Fisk University, Nashville, TN, 37232, USA; Center for Structural Biology, Vanderbilt University, Nashville, TN, 37232, USA.
Hinton A; Department of Molecular Physiology and Biophysics, Vanderbilt University, Nashville, TN, 37232, USA. Electronic address: antentor.o.hinton.jr@vanderbilt.edu.

Trends Biochem Sci ; 48(6): 585-586, 2023 06.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-36990957

Assuntos

Microscopia Eletrônica de Varredura

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia Eletrônica de Varredura Idioma: En Revista: Trends Biochem Sci Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google