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1.
J Nanosci Nanotechnol ; 7(11): 4150-3, 2007 Nov.
Artículo en Inglés | MEDLINE | ID: mdl-18047139

RESUMEN

We report the fabrication and characterization of poly-Si nanowire transistors on flexible substrates. The nanowire transistors are fabricated on a SiO2/Si substrate using conventional CMOS processes, and then they are transferred onto polyimide substrates. The transfer process is performed by spin-coating of polyimide, curing (annealing) of the polyimide layer, and removal of the SiO2 sacrificial layer. The optimized curing condition results in the maximum bending of 150 degrees with full recovery. The nanowire transistors exhibit transistor characteristics as a function of the backgate bias. Our new process can be applied to the fabrication of Si-nanowire transistors with larger mobilities.


Asunto(s)
Cristalización/métodos , Imidas/química , Nanoestructuras/química , Nanoestructuras/ultraestructura , Nanotecnología/instrumentación , Silicio/química , Transistores Electrónicos , Diseño de Equipo , Análisis de Falla de Equipo , Ensayo de Materiales , Nanotecnología/métodos , Tamaño de la Partícula , Plásticos/química
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