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1.
J Phys Chem B ; 110(35): 17425-9, 2006 Sep 07.
Artículo en Inglés | MEDLINE | ID: mdl-16942080

RESUMEN

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) along with inductively coupled plasma analysis (ICP-AE) and Raman spectroscopy have been used to define the location and to quantify the amount of iodine in HiPco SWNT samples loaded with molecular I(2) via sublimation (I(2)-SWNTs). The exterior-adsorbed I(2) can be removed (as I(-)) by reducing the sample of filled nanotubes with Na(0)/THF or by heating the I(2)-SWNTs to 300 degrees C (without reduction), leaving I(2) contained only within the interior of the SWNTs (I(2)@SWNTs) as proven by XPS. These I(2)@SWNTs contain approximately 25 wt % of I(2) and are stable without the loss of I(2) even after exposure to additional reduction with Na(0)/THF or upon heating to ca. 500 degrees C.


Asunto(s)
Química Física/métodos , Yodo/química , Espectrometría por Rayos X/métodos , Espectrometría Raman/métodos , Adsorción , Cristalización , Cristalografía , Calor , Cinética , Ensayo de Materiales , Microscopía de Fuerza Atómica , Microscopía Electrónica de Transmisión , Nanotecnología , Temperatura
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