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Wavelength-dispersive double flat-crystal analyzer for inelastic X-ray scattering.
Bortel, G; Alp, E E; Sturhahn, W; Toellner, T S.
Afiliación
  • Bortel G; Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne IL 60439, USA. gb@szfki.hu
J Synchrotron Radiat ; 7(Pt 5): 333-9, 2000 Sep 01.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-16609217
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Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Asunto de la revista: RADIOLOGIA Año: 2000 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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