Graphene thickness determination using reflection and contrast spectroscopy.

Ni, Z H; Wang, H M; Kasim, J; Fan, H M; Yu, T; Wu, Y H; Feng, Y P; Shen, Z X

Ni, Z H; Wang, H M; Kasim, J; Fan, H M; Yu, T; Wu, Y H; Feng, Y P; Shen, Z X.

Afiliación

Ni ZH; Department of Physics, National University of Singapore, 2 Science Drive 3, Singapore 117542.

Nano Lett ; 7(9): 2758-63, 2007 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-17655269

Asunto(s)

Grafito/química; Ensayo de Materiales/métodos; Nanoestructuras/química; Nanoestructuras/ultraestructura; Fotometría/métodos; Refractometría/métodos; Análisis Espectral/métodos; Sustancias Macromoleculares/química; Conformación Molecular; Nanotecnología/métodos; Tamaño de la Partícula; Reproducibilidad de los Resultados; Sensibilidad y Especificidad; Propiedades de Superficie

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Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Fotometría / Refractometría / Análisis Espectral / Ensayo de Materiales / Nanoestructuras / Grafito Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Evaluation_studies / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nano Lett Año: 2007 Tipo del documento: Article

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