Automatic twin statistics from electron backscattered diffraction data. | J Microsc;238(3): 218-29, 2010 Jun 01. | MEDLINE

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Automatic twin statistics from electron backscattered diffraction data.

Marshall, P E; Proust, G; Rogers, J T; McCabe, R J.

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Marshall PE; Materials Science and Technology Division, Los Alamos National Laboratory, Los Alamos, New Mexico 87545, USA.

J Microsc ; 238(3): 218-29, 2010 Jun 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20579260

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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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