Exceeding conventional resolution limits in high-resolution transmission electron microscopy using tilted illumination and exit-wave restoration. | Microsc Microanal;16(4): 409-15, 2010 Aug. | MEDLINE

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Exceeding conventional resolution limits in high-resolution transmission electron microscopy using tilted illumination and exit-wave restoration.

Haigh, Sarah J; Sawada, Hidetaka; Takayanagi, Kunio; Kirkland, Angus I.

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Haigh SJ; Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, United Kingdom.

Microsc Microanal ; 16(4): 409-15, 2010 Aug.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20602870

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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2010 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido

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