Assessing noise sources at synchrotron infrared ports.

Lerch, Ph; Dumas, P; Schilcher, T; Nadji, A; Luedeke, A; Hubert, N; Cassinari, L; Boege, M; Denard, J-C; Stingelin, L; Nadolski, L; Garvey, T; Albert, S; Gough, Ch; Quack, M; Wambach, J; Dehler, M; Filhol, J-M

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Assessing noise sources at synchrotron infrared ports.

Lerch, Ph; Dumas, P; Schilcher, T; Nadji, A; Luedeke, A; Hubert, N; Cassinari, L; Boege, M; Denard, J-C; Stingelin, L; Nadolski, L; Garvey, T; Albert, S; Gough, Ch; Quack, M; Wambach, J; Dehler, M; Filhol, J-M.

Afiliación

Lerch P; Swiss Light Source, Paul Scherrer Institut, Villigen, Switzerland. philippe.lerch@psi.ch

J Synchrotron Radiat ; 19(Pt 1): 1-9, 2012 Jan.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22186638

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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Asunto de la revista: RADIOLOGIA Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Suiza

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