Electrical characteristic analysis using low-frequency noise in low-temperature polysilicon thin film transistors. | J Nanosci Nanotechnol;12(7): 5532-6, 2012 Jul. | MEDLINE

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Electrical characteristic analysis using low-frequency noise in low-temperature polysilicon thin film transistors.

Kim, Y M; Jeong, K S; Yun, H J; Yang, S D; Lee, S Y; Kim, M J; Kwon, O S; Jeong, C W; Kim, J Y; Kim, S C; Lee, G W.

Afiliación

Kim YM; Department of Electronics Engineering, Chungnam National University, Daejeon, 305-764, Korea.

J Nanosci Nanotechnol ; 12(7): 5532-6, 2012 Jul.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22966605

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Bases de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Año: 2012 Tipo del documento: Article

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Bases de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Año: 2012 Tipo del documento: Article