Diagnostic yield of electroencephalography in a general inpatient population.

Betjemann, John P; Nguyen, Ivy; Santos-Sanchez, Carlos; Douglas, Vanja C; Josephson, S Andrew

Betjemann, John P; Nguyen, Ivy; Santos-Sanchez, Carlos; Douglas, Vanja C; Josephson, S Andrew.

Afiliación

Betjemann JP; Department of Neurology, University of California, San Francisco, San Francisco, California, USA. John.Betjemann@uscfmedctr.org

Neurodiagn J ; 53(3): 207-16, 2013 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24046969

Asunto(s)

Electroencefalografía/estadística & datos numéricos; Epilepsia/diagnóstico; Epilepsia/epidemiología; Hospitalización/estadística & datos numéricos; Pacientes Internos/estadística & datos numéricos; Anciano; Femenino; Humanos; Incidencia; Masculino; Persona de Mediana Edad; Reproducibilidad de los Resultados; Factores de Riesgo; San Francisco/epidemiología; Sensibilidad y Especificidad

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Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Electroencefalografía / Epilepsia / Hospitalización / Pacientes Internos Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Etiology_studies / Incidence_studies / Observational_studies / Prognostic_studies / Risk_factors_studies Límite: Aged / Female / Humans / Male / Middle aged País/Región como asunto: America do norte Idioma: En Revista: Neurodiagn J Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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