Your browser doesn't support javascript.
loading
Direct measurement of the effective infrared dielectric response of a highly doped semiconductor metamaterial.
Al Mohtar, Abeer; Kazan, Michel; Taliercio, Thierry; Cerutti, Laurent; Blaize, Sylvain; Bruyant, Aurélien.
Afiliación
  • Al Mohtar A; UTT, ICD-LNIO and STMR-UMR6279 CNRS, 12 rue Marie Curie-CS 42060, F-10004 Troyes, France.
Nanotechnology ; 28(12): 125701, 2017 Mar 24.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-28151723
Texto completo
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Qualitative_research Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2017 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia
Texto completo
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Qualitative_research Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2017 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia