RBS Depth Profiling Analysis of (Ti, Al)N/MoN and CrN/MoN Multilayers.
Nanoscale Res Lett
; 12(1): 161, 2017 Dec.
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| ID: mdl-28253563
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1
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Idioma:
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Revista:
Nanoscale Res Lett
Año:
2017
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Article
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China