Cyclical Annealing Technique To Enhance Reliability of Amorphous Metal Oxide Thin Film Transistors.
ACS Appl Mater Interfaces
; 10(31): 25866-25870, 2018 Aug 08.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-29481039
Texto completo:
1
Bases de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
ACS Appl Mater Interfaces
Asunto de la revista:
BIOTECNOLOGIA
/
ENGENHARIA BIOMEDICA
Año:
2018
Tipo del documento:
Article