Novel TEM Microscopy and Electron Diffraction Techniques to Characterize Cultural Heritage Materials: From Ancient Greek Artefacts to Maya Mural Paintings.

Nicolopoulos, Stavros; Das, Partha P; Pérez, Alejandro Gómez; Zacharias, Nikolaos; Cuapa, Samuel Tehuacanero; Alatorre, Jesús Angel Arenas; Mugnaioli, Enrico; Gemmi, Mauro; Rauch, Edgar F

Nicolopoulos, Stavros; Das, Partha P; Pérez, Alejandro Gómez; Zacharias, Nikolaos; Cuapa, Samuel Tehuacanero; Alatorre, Jesús Angel Arenas; Mugnaioli, Enrico; Gemmi, Mauro; Rauch, Edgar F.

Afiliación

Nicolopoulos S; NanoMEGAS Sprl, Blvd Edmond Machtens 79, B-1080 Brussels, Belgium.
Das PP; NanoMEGAS Sprl, Blvd Edmond Machtens 79, B-1080 Brussels, Belgium.
Pérez AG; Electron Crystallography Solutions SL, Calle Orense 8, 28020 Madrid, Spain.
Zacharias N; NanoMEGAS Sprl, Blvd Edmond Machtens 79, B-1080 Brussels, Belgium.
Cuapa ST; Department of History, Archaeology and Cultural Resources Management, University of the Peloponnese, 24100 Kalamata, Greece.
Alatorre JAA; Instituto de Física, Circuito de la Investigación s/n, UNAM, Cd. Universitaria, Coyoacán, 04510 México D.F., Mexico.
Mugnaioli E; Instituto de Física, Circuito de la Investigación s/n, UNAM, Cd. Universitaria, Coyoacán, 04510 México D.F., Mexico.
Gemmi M; Center for Nanotechnology Innovation@NEST, Istituto Italiano di Tecnologia, Piazza San Silvestro 12, 56127 Pisa, Italy.
Rauch EF; Center for Nanotechnology Innovation@NEST, Istituto Italiano di Tecnologia, Piazza San Silvestro 12, 56127 Pisa, Italy.

Scanning ; 2019: 4870695, 2019.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-31263516

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