Variable-Wavelength Quick Scanning Nanofocused X-Ray Microscopy for In Situ Strain and Tilt Mapping.
Small
; 16(6): e1905990, 2020 Feb.
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| ID: mdl-31962006
Texto completo:
1
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MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Small
Asunto de la revista:
ENGENHARIA BIOMEDICA
Año:
2020
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Francia